高溫試驗(yàn)箱環(huán)境溫度是受到電路功率、老化板擺放地方的變化及烘箱網(wǎng)速變化等原因的影響而導(dǎo)致儀器溫場(chǎng)出現(xiàn)變故，設(shè)備內(nèi)的溫場(chǎng)變化劇烈的會(huì)對(duì)產(chǎn)品正常老化測(cè)試，形成過應(yīng)力的現(xiàn)象，嚴(yán)重的時(shí)候還會(huì)造成電路的失效。對(duì)影響設(shè)備的溫度因素進(jìn)行實(shí)驗(yàn)監(jiān)控的分析，找出了對(duì)其影響溫場(chǎng)的主要規(guī)律和因素，并且采取了更好的散熱措施，避免老化電路過溫的失效。

　　1、高溫試驗(yàn)箱內(nèi)的溫場(chǎng)變化受老化電路功率大小、散熱能力大?。L(fēng)速）的影響。儀器不僅控制所有加電路的功率，還可以改變箱體內(nèi)的電路排序方式，下底層請(qǐng)盡量加滿電路，依次是下底層逐漸減少電路功率，形成功率階梯度，與設(shè)備風(fēng)速相吻合，以便達(dá)到散熱的目的。

 

　　2、根據(jù)已經(jīng)改進(jìn)措施相結(jié)合的以功率零件DC電源為測(cè)試對(duì)象，溫度范圍設(shè)置在80℃，測(cè)試電路功率65W(1只)逐漸增加到520W(8只)，高溫試驗(yàn)箱內(nèi)的電路功率達(dá)到520W，至少比設(shè)定溫度高出5.6℃，能達(dá)到國軍標(biāo)準(zhǔn)的基本要求（8℃或8%）

 

　　3、儀器使用的是電熱高溫，風(fēng)源來自底端，由于設(shè)備能老化、承載的因素，一般風(fēng)速是由下往上逐漸減小，根據(jù)儀器的風(fēng)速的特點(diǎn)，是可以將老化板放置方向與設(shè)備風(fēng)向保持一致，從而增大通風(fēng)面積，減少風(fēng)速阻隔，然而增強(qiáng)高溫試驗(yàn)箱的散熱功能。