低溫試驗(yàn)箱適用航天航空商品、信息內(nèi)容電子器件儀表設(shè)備、原材料、電焊工、車子、金屬材料、電子設(shè)備、各種各樣電子器件原氣件在高低溫自然環(huán)境下、檢測(cè)其各特性項(xiàng)指標(biāo)值及質(zhì)量控制的用處。
低溫試驗(yàn)箱溫度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
測(cè)試點(diǎn)的位置及數(shù)量
1、在試驗(yàn)箱個(gè)人工作室內(nèi)容定下上、中、下三個(gè)水平考試面，通稱上、中、下一層，頂層與個(gè)人工作室墻頂?shù)拈g距是個(gè)人工作室高寬比的1/10，中高層根據(jù)個(gè)人工作室?guī)缀沃行?，下一層在矮層試品架上?0毫米處。
2、低溫試驗(yàn)箱測(cè)試用例坐落于三個(gè)檢測(cè)表面，管理中心測(cè)試用例坐落于個(gè)人工作室?guī)缀沃行?，其他測(cè)試用例到個(gè)人工作室壁的間距為各有周長(zhǎng)的1/10，但對(duì)個(gè)人工作室容量不超1立方米的試驗(yàn)箱，該間距不小于50毫米
3、測(cè)試用例的總數(shù)與個(gè)人工作室容量尺寸的關(guān)聯(lián)為：個(gè)人工作室容量不超2立方時(shí)，測(cè)試用例為9個(gè);個(gè)人工作室容量超過(guò)2立方時(shí)，測(cè)試用例為十五個(gè);當(dāng)個(gè)人工作室容量超過(guò)50立方時(shí)，溫度檢測(cè)點(diǎn)的總數(shù)能夠 適度提升。
